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Michell EA2-TX-100露点仪采用哪些测量技术?
露点仪是一种能够直接测定露点湿度的精密仪器,广泛应用于半导体、石化、电力、电子及航空航天等多个行业,这些行业对湿度测量的**度要求日益提升。露点(湿度)的测量原理和技术多种多样,以下是Michell EA2露点仪所采用的几种主要测量技术的简要介绍:
冷镜式测量:Michell EA2-TX-100露点仪采用哪些测量技术? 冷镜式露点仪通过在不同温度下的镜面上使气体结露,并利用光电检测技术测量结露时的温度,从而直接显示露点。镜面制冷方式包括半导体制冷、液氮制冷和高压空气制冷。这种直接测量方法在保证检露准确、制冷高效和温度精密测量的前提下,可作为标准露点仪使用。
电传感器式测量: 电传感器式露点仪采用亲水性材料作为介质,构成电容或电阻。当含水分的气体流经时,介电常数或电导率发生变化,通过测量此时的电容值或电阻值,即可确定气体的水分含量。
阻容法测量: 阻容法利用高纯铝棒表面氧化形成的超薄氧化铝薄膜和金膜之间的电容变化来测量湿度。氧化铝薄膜的吸水特性导致电容值随样气水分含量变化,通过测量该电容值即可得到样气的湿度。
电解法测量:Michell EA2-TX-100露点仪采用哪些测量技术? 电解法微水份仪利用五氧化二磷等材料吸湿后分解成极性分子,在电极上积累电荷的特性来测量湿度。这种方法的精度较高,但要求气体洁净度较高。
晶体振荡式测量: 晶体振荡式露点仪利用晶体沾湿后振荡频率改变的特性来测量湿度。这是一项较新的技术,国外已有相关产品,但成本较高。
红外测量: 红外式露点仪利用气体中的水分对红外光谱的吸收特性来测量湿度。然而,目前该仪器在低露点测量方面存在困难,主要是由于红外探测器的峰值探测率尚未达到微量水吸收的量级,同时气体中其他成分对红外光谱的吸收也会产生干扰。
半导体传感器测量:Michell EA2-TX-100露点仪采用哪些测量技术? 半导体传感器露点仪利用水分子进入半导体晶格空隙后与晶格产生共振的特性来测量湿度。共振频率与水的摩尔数成正比,水分子的共振能使半导体结放出自由电子,从而增大晶格的导电率,减小阻抗。这种传感器可测量到-100℃露点的微量水分。
此外,Michell密析尔的阻抗仪表还采用了先进的金属氧化物陶瓷湿度传感器技术,该技术利用半导体厚薄膜手段将整个传感器结构构建于坚固均匀的半导体级陶瓷芯片基础上。其中,Michell露点仪PURA是一款专门用于测量超高纯气体中微量水分含量的仪器,其测量范围可达-120℃露点(1ppb V),精度为±1℃(-40℃至-60℃露点范围)。
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