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Presens荧光法顶空残氧分析仪操作步骤详解

Presens荧光法顶空残氧分析仪操作步骤详解

荧光法顶空残氧分析仪是一种基于荧光淬灭原理的精密设备,主要用于无损检测密封包装(如药品西林瓶、食品包装)顶部空间的残留氧气含量。为确保测量结果的准确性,请严格遵循以下操作流程。


一、 准备工作

1. 仪器检查与电源连接

  • ‌外观检查‌:确保仪器外观完好无损,屏幕显示清晰,无物理损伤。Presens荧光法顶空残氧分析仪操作步骤详解
  • ‌电源连接‌:使用三线式电源线连接仪器,避免使用两线式替代品,防止零线与地线混用。若使用蓄电池供电,需提前检查电量并充足电。
  • ‌环境准备‌:操作环境应保持室温约20℃,相对湿度不超过80%,避免极端条件影响设备性能。

2. 样本准备

  • ‌样本要求‌:确保待测包装样本(如西林瓶)状态稳定,符合检测要求。
  • ‌密封性确认‌:对于需穿刺的样本,确保包装完好。对于采用‌非侵入式荧光贴片‌进行长期留样管理的样本,需提前在包装外部贴好传感器贴片。

二、 校准过程(以确保仪器精度)

1. 探头连接与校准启动Presens荧光法顶空残氧分析仪操作步骤详解

  • ‌探头连接‌:若使用侵入式荧光探针,需将探头与主机连接稳固。若使用非侵入式贴片读数仪,则确保设备与贴片接触良好。
  • ‌校准液准备‌:在溶解氧瓶中装入约3厘米高的纯水,作为校准介质(主要针对溶解氧探头校准)。
  • ‌校准模式进入‌:打开仪器电源,按下【CALIBRATE】键进入校准模式,随后根据提示选择相应校准菜单。

2. 校准值输入与确认

  • ‌读数稳定‌:等待显示屏读数稳定。
  • ‌校准确认‌:按照仪器提示输入或确认校准值,屏幕显示校准成功提示(如【D.O. CALIBRATION SAVED】),仪器将自动进行温度补偿。
  • ‌校准注意事项‌:校准前需确保探头或传感器表面清洁干燥;校准过程中防止突然停电或显示波动。

三、 测量操作(两种模式)

模式一:非侵入式测量(适用于留样管理或无损检测)

  1. ‌样本放置‌:将已贴有荧光贴片的包装样本,置于读数仪的检测区域。
  2. ‌启动测量‌:在仪器操作界面选择非侵入式测量模式,启动检测。
  3. ‌读取结果‌:仪器通过光学原理读取贴片荧光信号,直接计算出顶空氧浓度并显示,‌仅需约0.1ml样气信号即可分析‌。

模式二:侵入式测量(使用0.4mm荧光探针穿刺包装)Presens荧光法顶空残氧分析仪操作步骤详解

  1. ‌固定样本‌:将待测包装(如西林瓶)固定在样品台上。
  2. ‌穿刺取样‌:
    • 使用取样针头或仪器自带的纤细荧光探针,刺穿包装的密封部分(如胶塞)。
    • ‌注意‌:刺穿时避免用力过猛,防止针头扎到包装内药品或内容物。
  3. ‌启动与分析‌:
    • 按下“试验”或“测量”键,仪器自动将样气导入检测腔或由探头直接检测。
    • 该模式‌适用于小顶空、负压条件‌下的测试,并可‌同时检测顶空氧及溶解氧含量‌。
  4. ‌记录数据‌:等待读数稳定后,记录仪器显示的氧气浓度值。仪器配备大容量内存,可自动保存数据。

四、 测量后处理

1. 仪器清洁与存储

  • ‌探头清洗‌:测量结束后,如果使用了侵入式探针,需用去离子水彻底冲洗探头,去除残留样本。
  • ‌仪器存放‌:将清洁后的探头妥善放置,关闭仪器电源。对于非侵入式读数仪,清洁检测窗口即可。
  • ‌数据管理‌:可通过USB连接PC,将仪器内部保存的测量数据轻松转移或导出进行进一步分析。

2. 定期维护与检定

  • ‌传感器维护‌:该仪器的荧光传感器具有‌免维护、长期使用‌的特点,但仍需避免物理损坏。
  • ‌定期检定‌:建议每年将仪器送至专业计量部门进行检定,确保设备长期精度。
  • ‌环境监控‌:持续在适宜的环境(温湿度)下操作和存放仪器。

五、 核心要点与注意事项

  • ‌原理优势‌:该方法为‌光学原理,非取样分析‌,不消耗样气,对包装内气体环境干扰极小。
  • ‌模式选择‌:根据检测目的选择模式。‌侵入式(探针)‌ 用于单次**测量;‌非侵入式(贴片)‌ 适合对同一包装进行长期、周期性的留样稳定性监测。
  • ‌操作**‌:严格遵守电气**规范,穿刺操作时注意手法,避免损伤样本或自身。
  • ‌数据验证‌:定期通过标准气体或校准程序验证仪器状态,确保测量结果可靠。

遵循以上步骤,可以充分发挥Presens顶空残氧分析仪高精度、无损、双模式测量的技术优势,为药品、食品等行业的包装密封性及产品质量控制提供准确可靠的数据支持。

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