原子层沉积系统采用美国AII微量氧分析仪与露点仪 - 埃登威自动化系统设备(上海)有限公司

原子层沉积系统采用美国AII微量氧分析仪与露点仪

一、设备概述:
        原子层沉积系统是专门为工业化大规模生产而研发的4腔室原子层沉积系统。该系统配备多种材料的标准沉积工艺配方,满足工业应用需求。

二、产品优势:
       先进的软件控制系统:系统集工艺配方、参数设置、权限设定、互锁报警、状态监控等功能于一体;


三、技术指标:原子层沉积系统采用美国AII微量氧分析仪与露点仪
       基片尺寸 8英寸及以下
       基片加热温度 室温~500℃,控制精度±0.1℃
       前驱体输运系统 标准2路前驱体管路,可选配
       前驱体管路温度 室温~200℃,控制精度±0.1℃
       源瓶加热温度 室温~200℃,控制精度±0.1℃
       ALD阀 Swagelok快速高温ALD专用阀
       本底真空 <5*10-3Torr,进口防腐泵
       载气系统 N2或者Ar
       处理能力 4腔室,每腔室400片
       生长模式 连续高速沉积模式
       控制系统 PLC+触摸屏或者显示器
       电源 50-60Hz, 380V/40A交流电源
       沉积非均匀性 非均匀性<±1% 片间非均匀性 <±1.5%
       设备尺寸 3000mmx800mmx2400mm

四、可沉积薄膜种类:原子层沉积系统采用美国AII微量氧分析仪与露点仪
       单 质:Co, Cu, Ta, Ti, W, Ge, Pt, Ru, Ni, Fe…
       氮化物:TiN, SiN, AlN, TaN, ZrN, HfN, WN …
       氧化物:TiO2, HfO2, SiO2, ZnO, ZrO2, Al2O3, La2O3, SnO2
       其它化合物:GaAs, AlP, InP, GaP, InAs, LaHfxOy, SrTiO3,SrTaO6

五、应用实例
       高K栅氧化层,存储容性电介质,铜互连中高深宽比扩散阻挡层,OLED无针孔钝化层,MEMS的高均匀镀膜,纳米多孔结构镀膜,特种光纤掺杂,太阳能电池,平板显示器,光学薄膜,其它各类特殊结构纳米薄膜原子层沉积系统采用美国AII微量氧分析仪与露点仪


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